A Noninvasive and Robust Diagnostic Method for Open-Circuit Faults of Three-Level Inverters
发布时间：2020-11-25
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影响因子：3.745
DOI码：10.1109/ACCESS.2018.2886706
发表刊物：IEEE ACCESS
合写作者：Chen, Te-Fang, Yu, Tianjian, Xiang, Chaoqun, Li, Kaidi
第一作者：Xun Wu
论文类型：期刊论文
通讯作者：Cheng, Shu
学科门类：电气工程
文献类型：J
卷号：7
期号：0
页面范围：2006-2016
ISSN号：2169-3536
是否译文：否
发表时间：2019-01-01
收录刊物：SCI