A Novel Diagnostic Technique for Open-Circuited Faults of Inverters Based on Output Line-to-Line Voltage Model
发布时间：2021-09-15
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发表刊物：IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRIAL ELECTRONICS
合写作者：Wu Xun, Yu Tian-Jian, Chen Ya-Ting
第一作者：Cheng Shu
论文类型：期刊论文
卷号：63
期号：7
页面范围：4412-4421
是否译文：否
发表时间：2016-09-01
收录刊物：SCI