A Diagnostic Method for Open-Circuit Faults of Loads and Semiconductors in 3L-NPC Inverters
发布时间：2026-04-22
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发表刊物：IEEE JOURNAL OF EMERGING AND SELECTED TOPICS IN POWER ELECTRONICS
合写作者：Shu Cheng, Chaoqun Xiang, Zhuoxin Li
第一作者：Yusong Hu
论文类型：期刊论文
通讯作者：Xun Wu
文献类型：J
卷号：11
期号：3
页面范围：2577-2590
是否译文：否
发表时间：2023-06-01
收录刊物：SCI