采用先进电镜技术，主要包括透射电镜（TEM）、扫描透射(STEM)、三维原子探针(APT)等表征掺杂元素在纳米陶瓷晶界、相界等区域的分布和偏析情况，探究偏析机理以及其对纳米陶瓷微观结构和性能的影响。