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返回首页An anti-degradation chaotic map and its statistical robustness analysis
发布时间：2026-07-07
点击次数：
- 发表刊物：
- IEEE Transactions on Industrial Electronics
- 合写作者：
- Wang H, Liu W
- 第一作者：
- Liu J
- 通讯作者：
- Sun K
- 卷号：
- 72
- 期号：
- 12
- 页面范围：
- 14533-14542
- 是否译文：
- 否
- 发表时间：
- 2025-07-25