基于平面波电磁测深的静态效应校正方法

Release time:2019-11-18

Affilication of Author(s):中南大学

School Sign:中南大学

Patent Applicant:边, 王鹤, 韦洪兰, 肖炜, 王亮, 亓庆新, 薛军平, 陈兴朋, 宋刚, 侯海涛, 周胜, 黄龙, 龙霞, 李国瑞, 席振铢

Authorization number:ZL201710029301.0

Service Invention or Not:no

Publication Date:2018-08-14

First Author:席振铢