一种晶体内部体缺陷的检测方法
发布时间:2025-03-28
点击次数:
学校署名:中南大学
发明设计人:段玉霞, 陈小钰, 赵纪祥, 孟建桥
专利类型:发明
专利状态:授权专利
授权号:ZL202411720455.0
发明人数:4
是否职务专利:否
一种晶体内部体缺陷的检测方法
发布时间:2025-03-28
点击次数:
学校署名:中南大学
发明设计人:段玉霞, 陈小钰, 赵纪祥, 孟建桥
专利类型:发明
专利状态:授权专利
授权号:ZL202411720455.0
发明人数:4
是否职务专利:否