基于光学磁驱相差检测的磁性纳米颗粒粒径分析系统
发布时间:2024-04-28
点击次数:
发明设计人:田博, 李婷婷, 张笑琰
专利类型:发明
专利状态:授权专利
授权号:ZL202210870012.4
是否职务专利:是
申请日期:2022-07-22
公开日期:2022-10-25
授权日期:2024-04-23
基于光学磁驱相差检测的磁性纳米颗粒粒径分析系统
发布时间:2024-04-28
点击次数:
发明设计人:田博, 李婷婷, 张笑琰
专利类型:发明
专利状态:授权专利
授权号:ZL202210870012.4
是否职务专利:是
申请日期:2022-07-22
公开日期:2022-10-25
授权日期:2024-04-23