Contrastive Bayesian Analysis for Deep Metric Learning
发布时间：2023-07-15
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影响因子：23.6
发表刊物：IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence
关键字：Contrastive Bayesian Analysis, Deep Metric Learning.
备注：CCF-A类
第一作者：Shichao Kan, Zhiquan He, Yigang Cen, Yang Li, Vladimir Mladenovic, Zhihai He
论文类型：期刊论文
学科门类：工学
一级学科：计算机科学与技术
文献类型：J
卷号：45
期号：6
页面范围：7220-7238
是否译文：否
发表时间：2023-06-01
收录刊物：SCI